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霍爾效應測試系統(tǒng)低溫型測量儀JH60D 產(chǎn)品概述： 本儀器系統(tǒng)由：電磁鐵、電磁鐵電源、高精度恒流源高精度電壓表、高斯計、霍爾效應樣品支架、標準樣品、系統(tǒng)軟件。為本儀器系統(tǒng)專門研制的 JH10效應儀將恒流源，六位半微伏表及霍爾測量復雜的切換繼電器——開關組裝成一體，大大減化了實驗的連線與操作。

霍爾效應測試儀 霍爾電源$n技術指標：$n* 磁 場： 間距 10mm 情況下 10700 高斯， 間距 20mm 情況下 7000 高斯。$n*樣品電流：50nA~50mA（小可調(diào)節(jié)電流為 0.1nA）$n*測量電壓：0.1uV~30V$n* 提供各類測試標準材料，各級別霍爾器件（靈敏度與精度不同）$n*小分辨率： 1GS$n*磁場范圍：0-±1T$n*配合高斯計或數(shù)采板可與計算機通訊

電磁鐵、電磁鐵電源、高精度恒流源高精度電壓表、高斯計、霍爾效應樣品支架、標準樣品、高低溫杜瓦，控溫儀，系統(tǒng)軟件。為本儀器系統(tǒng)專門研制的JH10 效應儀將恒流源，六位半微伏表及霍爾測量復雜的切換繼電器——開關組裝成一體，大大減化了實驗的連線與操作。JH10 可單獨做恒流源、微伏表使用。 霍爾效應實驗儀 材料測試系統(tǒng)

用于測量半導體材料的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)等重要參數(shù)，而這些參數(shù)是了解半導體材料電學特性必須預先掌控的，因此霍爾效應測試系統(tǒng)是理解和研究半導體器件和半導體材料電學特性*的工具。 霍爾效應測試系統(tǒng) 高阻型測試儀器